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                                          首頁 新聞動態 VDA19顆粒清潔度測試方法及要素

                                          VDA19顆粒清潔度測試方法及要素

                                            作為全球范圍內汽車行業中的零部件清潔度分析的框架標準--VDA19,其詳盡地描述了關于汽車零部件顆粒物清潔度的檢測技術以及零部件在生產、加工、裝配、物流等過程中的清潔度控制要求,從諸多環節出發,事前事后進行預防性地監控。VDA-19 標準中,提到了很多實用并有詳細說明的關于零部件表面污染物顆粒的萃取和定量分析的最常用的方法。

                                            所有清潔度分析都分為三個步驟:

                                            1.通過萃取液收集零部件表面的污染物顆粒。

                                            2.使用過濾膜對萃取液體進行過濾。

                                            3.將過濾膜進行分析以確定顆粒的質量,數量,尺寸和類型。

                                          零部件清潔度測試

                                            圖一:零部件清潔度測試的基本方案

                                          (一)萃取

                                            萃取的方法有壓力流體沖洗(圖二)、超聲波清洗法、內部搖晃攪拌清洗法以及新的空氣壓力流法。需要注意的是,對于材質疏松的零件不建議使用超聲波清洗機來清洗,超聲波的能量會損壞材料,產生新的顆粒而造成分析的結果不準確。

                                          不同樣品類型的壓力沖洗示范

                                            圖二:不同樣品類型的壓力沖洗示范[VDA-19.1]

                                          (二)過濾

                                            選擇合適的過濾膜,必須考慮過濾膜的化學穩定性和濾孔的尺寸。常用的濾膜有發泡膜和網格膜。VDA-19 標準推薦孔徑大小為5μm 的聚乙烯(PET)網格膜作為標準的濾膜。

                                          (三)分析

                                            1.重量分析

                                            獲取顆粒的總質量相當簡單,通過稱量過濾膜在過濾前后重量的差異,即可得到顆粒的總質量。但要想保證結果的準確性,濾膜的前處理步驟是非常重要的。處理方法,將濾膜浸入萃取液中,之后在烘箱中干燥,最后按預定時間儲存在干燥器中。在技術上,很難量化顆??傊亓啃∮?mg 的顆粒,因此還要求一個精確度很高的天平以及實驗室的環境條件需要恒定。

                                            2.光學分析

                                            光學分析是用合適的照明燈照亮做好的濾膜,通過透鏡放大成像。光學分析不僅能確定顆粒的數量,還能測量出其類型和尺寸。根據不同的要求,可以采用顯微鏡或平板掃描進行,如MicroQuick?。

                                          顆粒清潔度掃描儀

                                          MicroQuick?顆粒清潔度掃描儀

                                            在VDA-19的修訂過程中,工作組曾將多家自動化光學顯微鏡與MicroQuick?顆粒清潔度掃描儀進行了多次測試。結果發現,通過以一致的方式調節照明水平和顆粒檢測閾值,所得到的定量結果幾乎是一致的。也就是說MicroQuick?完全符合標準的要求。且BOSCH已指定MicroQuick作為他們的清潔度檢測儀器。

                                            3.擴展式顆粒分析

                                            若需要對顆粒的材質進行詳細得分析,則需要使用X 射線元分析(SEM-EDX)的自動掃描電子顯微鏡,其價格非常昂貴的。

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