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                                          首頁 新聞動態 ISO 16232顆粒物提取方法

                                          ISO 16232顆粒物提取方法

                                            顆粒是導致軸承故障的重要原因。為避免軸承意外受損,需要對軸承組件進行清潔度評估,以便評估并保證軸承的性能。IS0 16232規定了四種顆粒雜質的提取方法。.

                                            ·搖動法:向軸承組件注入已知量的溶劑,封口后搖動,提取雜質。

                                            ·加壓沖洗:使用試驗液體加壓沖洗軸承,沖掉雜質以便提取。

                                            ·超聲波技術:超聲波產生的微氣泡在顆粒附近聚爆。然后顆粒就會被排出,在提取液中收集顆粒。

                                            ·功能試驗:模擬組件的運行狀態,使用流動的液體將雜質從軸承表面分離,然后提取顆粒,見圖4。

                                            不論選擇哪種提取方法,都要遵循…個共同的原則。IS0 16232介紹了一種有效的顆粒提取方法,如公式(1)與圖1所示。

                                            Sn代表最后一次提取的顆粒數量,Si代表每次收集到的顆粒數量。也就是說,直到最后一次的采樣值(Sn)小于等于總采樣值的1/10時才能停止提取。但是,如果6次提取之后仍不能滿足公式(1),則提取參數無效,應重新檢查。

                                          ISO 16232顆粒物提取計算公式

                                            必須要注意的是,圖中的空白值反映組件操作和測試引入的雜質,該值也應小于假定的用重量法測定的清潔度水平的10%,或小于相關尺寸顆粒的規定數量的10%。

                                            然后,可以通過兒種方法來測定與分析提取的液體。根據ISO l6232,表1列出了幾種不同的分析方法。實際操作時可以根據對分析結果的要求選擇一種或多種方法。

                                          表 顆粒分析方法匯總

                                          方法設備參數結果限制
                                          重量評估天平總重量清潔度水平,沒有單個顆粒的重量環境條件(包括濕度等)
                                          光學顯微鏡實驗室手動或自動立體顯微鏡顆粒分布(長度、面積等)清潔度水平,包括顆粒數據顆粒數量不能過多,避免覆蓋
                                          掃描電子顯微鏡手動或自動掃描式電子顯微鏡顆粒分布、顆粒類型清潔度水平,包括全面的顆粒尺寸和類型數據顆粒數量不能過多,避免覆蓋
                                          自動消光顆粒計數器受限制顆粒分布(等效直徑)清潔度水平,包括顆粒數據顆粒介質稀疏分布,避免覆蓋

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                                          ISO 16232顆粒物提取套裝

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