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                                          首頁 新聞動態 ISO 16232顆粒物提取方法

                                          ISO 16232顆粒物提取方法

                                           顆粒是導致軸承故障的重要原因。為避免軸承意外受損,需要對軸承組件進行清潔度評估,以便評估并保證軸承的性能。 ISO 16232 規定了四種顆粒雜質的提取方法。 表 1 列出了幾種不同的分析方法。實際操作時可以根據對分析結果的要求選擇一種或多種方法。

                                          方法設備參數結果限制
                                          重量評估天平總重量清潔度水平,沒有單個顆粒的數據環境條件(濕度等)
                                          光學顯微鏡實驗室手動或自動顯微鏡顆粒分布(長度、面積)清潔度水平,包括顆粒數據顆粒數量不能過多,避免覆蓋
                                          掃描電子顯微鏡手動或自動掃描電子顯微鏡顆粒分布/顆粒類型清潔度水平,包括最全面的顆粒尺寸和類型數據顆粒數量不能過多,避免覆蓋
                                          自動消光顆粒計數器受限顆粒分布(等效直徑)清潔度水平,包括顆粒數據顆粒在介質稀疏分布,避免覆蓋

                                          ISO 16232顆粒物提取方法

                                          ISO 16232顆粒物提取套裝

                                          顆粒物提取套件

                                          ISO 16232顆粒物提取套件

                                          ISO 16232清潔度測試儀器

                                          ISO 16232清潔度測試儀器

                                          安捷萊清潔度分析儀可用于進行 ISO 16232清潔度等級分析測試

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